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TEM是什么分析仪器

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透射电镜

TEM是透射电镜,主要用于微区衍射分析,进行材料的微观结构分析、晶体学参数分析,位错等研究AFM是原子力显微镜,主要用于材料表面微观形貌观测,可实现3维立体构图XRD是X射线衍射,主要用于物相分析(定性与定量),结晶度分析,织构测定,晶体学参数测定等红外光谱主要用于有机官能团的标识

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