透射电子显微镜,简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。
散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射电子显微镜的分辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍,用于观察超微结构,即小于0.2µm、光学显微镜下无法看清的结构,又称“亚显微结构”。
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透射电子显微镜,简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。
散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射电子显微镜的分辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍,用于观察超微结构,即小于0.2µm、光学显微镜下无法看清的结构,又称“亚显微结构”。
tem是透射电子显微镜的英文缩写,是一种用于材料组织和晶体学研究的高分辨率显微镜。tem能够通过电子束的传输和散射,获取材料内部的结构和成分信息。
tem是透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope)的缩写,它是通过电子束穿透样品来获取高分辨率图像的一种显微镜。使用tem可以观察物质的微观结构及原子级别的细节,是一种常用于材料科学、物理学、化学等领域的分析工具。
TEM是Transverse Electric and Magnetic Field 的缩写,常用于微波中标识模式的符号。指电磁波的电场和磁场都在垂直于传播方向的平面上,这种电磁波简称TEM波。
TEM有很多意思,在中国,一般最常见就是英语专业等级考试,俗称专四,专八 TEM (Test for English Major)